oldchenj 发表于 2017-3-29 10:13

新型白光干涉仪

本帖最后由 oldchenj 于 2017-3-29 10:15 编辑

       各位同好大家好，今天展示下我的比较特别的新作，换个视角感受下光学的乐趣，顺便略做科普下。       经过一段时间的忙碌，成功制作了一套全新结构的白光干涉检测系统。经过测试性能超出预期，幸甚至哉！！！      干涉箱体210X150X80mm，中心波长520nm，视场范围2.2mm，条纹粗细可调，像素300万。       结构紧凑，外观简易大方，符合我对仪器的审美要求。      目前测试了几个光学镜片，以及机械加工零件，取得了比较满意的结果，被测件的反射率要求不低于4%。大口径的镜片检测暂时没有尝试。      白光干涉与激光干涉的原理类似，但是干涉长度非常小，相比激光干涉仪检测精度更高，安装调试困难程度比激光干涉要求更高。对系统的稳定性，抗震性以及光源的稳定性都有更高的要求。       有兴趣的需要原图的可以联系我。                                                                                                                     显微镜下的某晶体样品                                                                                                                           白光干涉下的晶体样品                                                                                                                                 表面三维形貌       经过上边的图片的对比，很明显的说明了，使用普通的光学检测手段，不能够判断出表面的损伤对光学元件面型的影响。而白光干涉法可以很有效的检测到这种影响。
                                                                                                                                           最新的一款白光干涉仪                                                                                                                                              白光干涉仪器                                                                                                                                               检测光学元件                                                                                                                                           检测平面光学原件

文明狼 发表于 2017-3-29 10:45

{:3_202:}技术流

52hpfans 发表于 2017-3-29 12:57

应该申请专利
页: [1]
查看完整版本: 新型白光干涉仪